Akses Katalog Publik Daring - Gunakan fasilitas pencarian untuk mempercepat penemuan data katalog

Topographic Characterization Of Atomic Force Microscopy (AFM) On The Growth Of Tis 03 On Si Using JSPM 4210/TM 4210BU

Pengarang : Susanto, Adhi - Kusumawardani, Sri Suning - Pratama, Abdi -
Edisi :
No. Panggil : SK 1711 TE-2006 R
Ketersediaan : 1 copies available for loan

Pencarian Spesifik
  • SEARCHING...
  • SEARCHING...
Kontak Pustakawan
Perp. Fak. Teknik
Perp. T. Arsitek
Perp. T. Geologi
Perp. T. Fisika
Perp. T. Kimia
Perp. T. Sipil
Perp. T. Elektro
Perp. T. Geodesi
Perp. T. Mesin
Perp. MPKD UGM
Random Cloud Tags
SIRREF QRCode
Statistik Pengunjung
Sejak 20 November 2012:

Pengunjung hari ini: 210
Total Pengunjung: 218962
Hits hari ini: 360
Total Hits: 3021951
Pengunjung online: 3